Simultaneous non-contact atomic force microscopy (nc-AFM)/STM imaging and force spectroscopy of Si(1 0 0)(2 × 1) with small oscillation amplitudes

Özer H., Atabak M., Ellialtǧlu R. M. , Oral A.

Applied Surface Science, cilt.188, ss.301-305, 2002 (SCI Expanded İndekslerine Giren Dergi) identifier

  • Cilt numarası: 188
  • Basım Tarihi: 2002
  • Doi Numarası: 10.1016/s0169-4332(01)00942-4
  • Dergi Adı: Applied Surface Science
  • Sayfa Sayıları: ss.301-305