Single Event Upset Tolerant TRNG Design and Its Tests Under Radiation

Yılmaz Ö. O., DEMİRKÖZ M. B., YALÇIN M. E.

The 39th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS 2024), Catania, İtalya, 13 - 15 Kasım 2024, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Doi Numarası: 10.1109/dcis62603.2024.10769157
• Basıldığı Şehir: Catania
• Basıldığı Ülke: İtalya
• Orta Doğu Teknik Üniversitesi Adresli: Evet