COMPLETE TEST-GENERATION METHOD FOR ALL STUCK-AT FAULTS IN COMBINATIONAL-CIRCUITS


GURAN H., HALICI U.

INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS, cilt.68, sa.5, ss.657-666, 1990 (SCI İndekslerine Giren Dergi) identifier identifier

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 68 Konu: 5
  • Basım Tarihi: 1990
  • Doi Numarası: 10.1080/00207219008921209
  • Dergi Adı: INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS
  • Sayfa Sayıları: ss.657-666