Incidental Gold Losses in Leaching Circuits: A Review of Major Chemical/Electrochemical and Physical Mechanisms Causing Deficient Au Recoveries

ALTUN N. E., Kou J., Klein B., Chunbao S.

World Gold Conference, Shenyang, Çin, 4 - 07 Eylül 2023, ss.769-780, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Shenyang
  • Basıldığı Ülke: Çin
  • Sayfa Sayıları: ss.769-780
  • Orta Doğu Teknik Üniversitesi Adresli: Evet