Development of SAMPLE Scanning High Speed AFM operating at 1,000 Lines/s 15µm x 15µm x 3µm | AVESİS

Orta Doğu Teknik Üniversitesi Akademik Veri Yönetim Sistemi

Development of SAMPLE Scanning High Speed AFM operating at 1,000 Lines/s 15µm x 15µm x 3µm

Atıf İçin Kopyala

ÇELİK Ü., UYSALLI Y., KEHRİBAR İ., ÇELİK K., ÖZER H. Ö., ORAL A.

The 19th InternationalScanning Probe Microscopy Conference KYOTO JAPAN, 17 - 19 Mayıs 2017

Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
Orta Doğu Teknik Üniversitesi Adresli: Evet