Electical conductivity imaging via contactless measurement : Forward and inverse problem simülations

---

Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Orta Doğu Teknik Üniversitesi, Mühendislik Fakültesi, Elektrik ve Elektronik Mühendisliği Bölümü, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 1998

Tezin Dili: İngilizce

Öğrenci: MEHMET NEJAT TEK

Danışman: NEVZAT GÜNERİ GENÇER

Özet:

oz ELEKTRİKSEL İLETKENLİK DAĞILIMININ KONTAK OLMADAN GÖRÜNTÜLENMESİ: İLERİ VE GERİ PROBLEM SIMULASYONLARI Tek, Mehmet Nejat Yüksek Lisans, Elektrik Elektronik Mühendisliği Bölümü Tez Yöneticisi: Doç. Dr. Nevzat Güneri Gençer Temmuz 1998, 88 sayfa Bu çalışmada yeni bir tıbbi görüntüleme metodu, 3 boyutlu temassız elektriksel iletkenlik görüntüleme, tanıtılmaktadır. Bu metod, manyetik indükleme yoluyla cisim içinde bir akım dağılımı oluşturmakta ve bu akımların oluşturduğu manyetik alan ölçümlerini görüntüleme için kullanmaktadir. Formülleri basitleştiren varsayım ların bu özel problem için geçerlilikleri tartışıldı. Probleme analitik çözümler türetildi ve sistemin pratik uygulamasının mümkün olduğu bulundu. Genel yapılar için çözüm sonlu elemanlar metoduyla elde edildi. 10 x 10 x 5 cm'lik iletken bir cismin 7 x 7'lik bir bobin sistemi ile görüntülenmesi simule edildi. İletkenlik değişimlerinin ölçümlere etkisini ifade eden duyarlılık matrisi oluşturuldu ve tekil değerler ayrıştırma sı metoduyla incelendi. Homojen ve katmanlı yapıların % 5'ten az bir hata ile görüntülenebileceği bulundu. Cisim 1x1x1 cm'lik birim elemanlara ayrıldı ve ölçümlerin sinyal gürültü oranı 80dB olarak tahmin edildi. 2 cm derinliğe kadar yüksek çözünürlüklü görüntü alınabildiği ve çözünürlüğün derinlikle kaybolduğu tes bit edildi. Bu çalışma, sistemin tıbbi amaçlar için uygun ve kullanılabilir olduğusonucunu verdi.