Atomic resolution imaging and force spectroscopy of silicon surfaces with atomic force microscopy

---

Tezin Türü: Doktora

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Bilkent Üniversitesi, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2001

Öğrenci: HAKAN ÖZGÜR ÖZEN

Danışman: AHMET ORAL