Investigation of on-wafer TRL calibration accuracy dependence on transitions and probe positioning


Atasoy H., Unlu M., Topalli K., Istanbulluoglu I., Temocin E., Bayraktar O., ...Daha Fazla

36th European Microwave Conference, EuMC 2006, Manchester, İngiltere, 10 - 12 Eylül 2006, ss.1582-1585 identifier identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1109/eumc.2006.281401
  • Basıldığı Şehir: Manchester
  • Basıldığı Ülke: İngiltere
  • Sayfa Sayıları: ss.1582-1585