Band alignment measurements of ZnOx/Si , MoOX/Si interfaces by ultraviolet photoelectron spectroscopy for heterojunction silicon

YILDIZ İ., NASER H., BEKTAŞ G., TURAN R., YERCİ S.

E-MRS FALL, Warszawa, Polonya, 17 - 21 Eylül 2017, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: Warszawa
• Basıldığı Ülke: Polonya
• Orta Doğu Teknik Üniversitesi Adresli: Evet