Band alignment measurements of ZnOx/Si , MoOX/Si interfaces by ultraviolet photoelectron spectroscopy for heterojunction silicon

YILDIZ İ., NASER H., BEKTAŞ G., TURAN R., YERCİ S.

E-MRS FALL, Warszawa, Polonya, 17 - 21 Eylül 2017

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Warszawa
  • Basıldığı Ülke: Polonya
  • Orta Doğu Teknik Üniversitesi Adresli: Evet