Scanning Hall Probe Microscopy (SHPM) using quartz crystal AFM feedback
INTERMAG ASIA 2005: Digests of the IEEE International Magnetics Conference, Nagoya, Japonya, 4 - 08 Nisan 2005, ss.100, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Doi Numarası: 10.1109/intmag.2005.1463528
- Basıldığı Şehir: Nagoya
- Basıldığı Ülke: Japonya
- Sayfa Sayıları: ss.100
- Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
- Orta Doğu Teknik Üniversitesi Adresli: Hayır