Radiation pressure excitation of Low Temperature Atomic Force Magnetic Force Microscope LT AFM MFM in 4 300K Temperature Range

KARCI Ö., ÇELİK Ü., UYSALLI Y., ÖZER H. Ö. , ORAL A.

16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, ECASIA'15, Granada, İspanya, 28 Eylül - 01 Ekim 2015

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Granada
  • Basıldığı Ülke: İspanya